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掃描電鏡電子束損傷對敏感樣品的影響

在掃描電鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用時，除了產(chǎn)生成像信號，還可能引起對樣品的損傷。

在掃描電鏡（SEM）圖像中，識別噪聲主要依靠觀察圖像特征、定量分析和實驗對比。

在掃描電鏡（SEM）中，噪聲主要來源于探測器信號的統(tǒng)計波動（電子數(shù)有限）和電子學(xué)噪聲。

掃描電鏡（SEM）的成像依賴于電子束與樣品相互作用時產(chǎn)生的多種信號，這些信號攜帶了樣品的形貌、成分和結(jié)構(gòu)等信息。

在掃描電鏡（SEM）成像中，信號噪聲是導(dǎo)致圖像模糊、對比度下降甚至細節(jié)丟失的重要原因。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，偽影是指圖像中出現(xiàn)的非樣品真實結(jié)構(gòu)的信號或形態(tài)，它們會誤導(dǎo)觀察者，通常來源于樣品制備、設(shè)備本身或成像條件。

掃描電鏡（SEM）的放大倍數(shù)對圖像質(zhì)量有直接而明顯的影響，它不僅決定了圖像呈現(xiàn)的細節(jié)程度，也會影響亮度、清晰度、景深等成像質(zhì)量指標。

在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果樣品導(dǎo)電性不足，會造成電荷積累（charging effect），從而導(dǎo)致圖像模糊、漂移或亮度不均。