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掃描電鏡可以觀測(cè)不平整樣品么

掃描電子顯微鏡（SEM）可以觀測(cè)不平整的樣品。事實(shí)上，掃描電鏡在觀測(cè)表面形貌時(shí)特別適用于不平整樣品，因?yàn)樗哂休^大的深度聚焦范圍和較大的工作距離。

通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM），可以觀察和測(cè)量礦物的大小。

電壓是掃描電子顯微鏡（SEM）中的一個(gè)重要參數(shù)，它對(duì)SEM的性能和觀察結(jié)果產(chǎn)生影響。

掃描電子顯微鏡的信號(hào)收集系統(tǒng)負(fù)責(zé)捕獲和處理由樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的信號(hào)。

掃描電子顯微鏡（SEM）具有多種工作模式，可根據(jù)不同的需求和應(yīng)用選擇適當(dāng)?shù)哪Ｊ健?/p>

掃描電子顯微鏡（SEM）在樣品大小和形態(tài)上有一些限制，這些限制主要受到儀器的設(shè)計(jì)和操作參數(shù)的影響。

選擇合適的探測(cè)器應(yīng)根據(jù)實(shí)際應(yīng)用和需求進(jìn)行評(píng)估。以下是一些考慮因素：

掃描電子顯微鏡（SEM）使用不同類型的探測(cè)器來(lái)測(cè)量和探測(cè)樣品表面產(chǎn)生的信號(hào)。