新聞資訊開拓創(chuàng)新，高端品質(zhì)，真摯服務(wù)

臺式掃描電鏡可以觀察到哪些細節(jié)和特征？

臺式掃描電鏡（SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，它可以提供有關(guān)樣品表面形貌、形狀、結(jié)構(gòu)和組成的詳細信息。

6月9日-6月12日，西北四省(甘青寧新)電子顯微鏡學(xué)會、陜西省電子顯微鏡學(xué)會將在甘肅省蘭州市蘭州大學(xué)舉辦“西北五省第十三屆電鏡學(xué)術(shù)交流及技術(shù)研討會”，此次會議是西北五省規(guī)模、影響力都很強的電子顯微學(xué)盛會。

掃描電鏡圖像分割和特征提取是圖像處理領(lǐng)域的重要任務(wù)之一。

掃描電鏡圖像的圖像配準和校正是在掃描電鏡圖像中消除畸變和對齊圖像的過程。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種常用的工具，用于對納米結(jié)構(gòu)進行成像和表征。

掃描電子顯微鏡（SEM）適用于廣泛的樣品類型，包括但不限于以下幾種：

臺式掃描電鏡（SEM）在進行樣品觀察之前通常需要進行一定程度的樣品制備。

在臺式掃描電鏡（SEM）圖像中，偽影是指在成像過程中出現(xiàn)的不真實或失真的特征，可能會干擾對樣品的正確解釋和分析。