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掃描電鏡的樣品臺(tái)傾斜角度如何影響成像效果？

掃描電鏡（SEM）樣品臺(tái)的傾斜角度對(duì)成像效果有重要影響，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

2025年3月29日-31日，2025年第二屆原子級(jí)制造論壇將在北京市舉辦。

在掃描電鏡（SEM）成像中出現(xiàn)條紋或噪聲可能會(huì)影響圖像質(zhì)量，常見(jiàn)的條紋和噪聲類型及其可能原因如下：

掃描電鏡（SEM）的標(biāo)定（Calibration）主要用于確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，包括尺寸測(cè)量、放大倍率、電子束偏轉(zhuǎn)等。

掃描電鏡（SEM）中常見(jiàn)的成像模式有多種，每種模式用于不同的分析目的，下面是一些常見(jiàn)的成像模式：

掃描電鏡（SEM）的圖像生成過(guò)程涉及電子束與樣品表面相互作用的復(fù)雜過(guò)程。

是否需要烘干處理取決于樣品的材質(zhì)、含水量以及掃描電鏡（SEM）模式。

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）下成像時(shí)，由于電子束轟擊樣品會(huì)導(dǎo)致電荷積累，進(jìn)而產(chǎn)生充電效應(yīng)，這可能導(dǎo)致圖像畸變、漂移甚至無(wú)法成像。