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掃描電鏡工作距離

掃描電鏡（SEM）的工作距離是指電子束從電子槍射出到樣品表面的距離。這個(gè)距離通常是一個(gè)重要的參數(shù)，會(huì)影響到成像的分辨率和深度。

掃描電鏡（SEM）對(duì)環(huán)境的要求非常嚴(yán)格，因?yàn)镾EM需要在高真空環(huán)境下工作以確保電子束能夠與樣品表面相互作用而不受干擾。

在掃描電鏡（SEM）圖像中計(jì)算表面粗糙度通常需要使用圖像處理技術(shù)。

掃描電鏡（SEM）圖像中的噪點(diǎn)通常由多種因素引起，包括儀器本身、樣品準(zhǔn)備過程和環(huán)境條件等。

一般情況下，傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）無法直接拍攝液體樣品，因?yàn)镾EM是在真空環(huán)境下工作的，而液體樣品在真空環(huán)境下會(huì)迅速蒸發(fā)，并在樣品表面形成氣泡，導(dǎo)致圖像模糊不清。

掃描電鏡（SEM）成像的黑白程度通常與樣品的材質(zhì)以及樣品表面的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)有關(guān)。

掃描電鏡（SEM）對(duì)真空度要求非常高，這是因?yàn)樵谡婵窄h(huán)境下，可以有效地避免電子束與氣體分子發(fā)生碰撞，從而保持電子束的穩(wěn)定性和樣品的表面清晰度。

掃描電鏡（SEM）主要檢測(cè)的是與樣品表面交互作用后產(chǎn)生的不同信號(hào)。