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掃描電鏡如何判斷能譜圖中的假峰？

判斷掃描電鏡能譜中的假峰是一項非常重要的技能，它直接影響到元素分析的準確性。

以下是掃描電鏡幾種核心方法和操作技巧，結合使用可以找到目標：

掃描電鏡圖像模糊是一個常見問題，通?？梢酝ㄟ^一系列系統(tǒng)性的調整來解決。

掃描電鏡中，導電和不導電樣品的處理方法有根本性的區(qū)別，核心原因在于如何應對 “電荷積累” 問題。

掃描電鏡的放大倍數實現方式與傳統(tǒng)光學顯微鏡有根本性的不同，它并不是通過透鏡的組合來“放大”圖像。

掃描電鏡（SEM）圖像出現整體或局部發(fā)白，通常意味著信號過強、表面帶電、或探測設置異常。

在掃描電鏡拍攝中，樣品是否需要導電，取決于樣品的材質、觀察模式和顯微鏡類型。

在掃描電鏡拍照過程中出現拖影，通常表現為圖像邊緣模糊、結構拉伸或重復陰影，這種現象往往與樣品、電子束或掃描設置有關。